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[会议论文] 作者：邹春梅,左长明,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文通过分析论证：薄膜的微结构与工艺条件密切相关.YBCO薄膜的Tc受到薄膜的微结构及薄膜的厚度制约.我们用不同的基片相同的实验方法制备了相同厚度的YBCO薄膜.用X射线衍射对...
[会议论文] 作者：周建略,吉晓江,左长明,
来源：中国物理学会第五届全国表面与界面物理学术会议 年份：1988
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[会议论文] 作者：姬洪,李言荣,李超,左长明,
来源：四川省电子学会半导体与集成技术专委会2008年度学术年会 年份：2008
用低压金属有机化学气相外延(LP-MOCVD)方法在蓝宝石(A1203)衬底上生长GaN外延膜，用高分辨X射线衍射(HRXRD)技术分析该外延膜的晶格常数，探讨GaN自缓冲层的引入实现较高质量的G...
[会议论文] 作者：姬洪,左长明,何士明,熊杰,李言荣,
来源：第五届中国功能材料及其学术会议 年份：2004
本文应用高分辨X射线衍射(HRXRD+TAXRD)技术对外延生长的SrTiO膜进行了分析,获得了有关该薄膜的晶体取向、衬底的结构特性以及弛豫态的点阵常数等信息,对今后改进SrTiO系列样品生长工艺有重要的意义.......
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