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[会议论文] 作者：徐立生,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会 年份：1985
对几种常用的高频和超高频小功率管进行了EB结雪崩击穿后hFE退化的对比试验。高频小功率管hFE雪崩击穿的机理是明确的，产生雪崩退化的器件一般不会产生致命失效，其hFE值可以经...
[会议论文] 作者：李向东,徐立生,
来源：1993年全国可靠性物理学学术讨论会 年份：1993
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[会议论文] 作者：杜伟,徐立生,
来源：第一届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会 年份：1997
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[会议论文] 作者：徐立生,杜银波,
来源：第八届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1999
高温度恒定应力加速寿命试验，广泛应用于对器件的可靠性快速评价，器件失效机理的分析，本文正是利用此方法对某重点工程末级功率管WDO331进行了快速评价，及其失效的原因分析。......
[会议论文] 作者：杜银波,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 年份：2000
该文主要介绍了开展功率晶体管加速寿命试验过程中，为保证试验数据的准确性，是如何控制功率晶体管试验温度的。...
[会议论文] 作者：刘世华,徐立生,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第四届学术年会 年份：1987
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[会议论文] 作者：刘庆祥,徐立生,
来源：第七届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1997
该文介绍了ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管ＤＸ００１１器件加速寿命试验的各种应力条件，以及试验中电参数的变化情况。重点对试验中电参数的变化机理做了详细的分析，并介绍了分析的各种手段。文章指......
[会议论文] 作者：徐立生,杜银波,
来源：中国电子学会可靠性分会第九届学术年会 年份：1998
该文概述了P波段功率管在射频脉冲条件下，进行加速寿命试验的方法和试验使用的设备，以及通过对我们目前试验工作的总结，对P波段功率管可靠性进行初步预测，分析器件失效的原因。......
[会议论文] 作者：赵清旭,庄燮彬,徐立生,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理分会第六届学术年会 年份：1992
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[会议论文] 作者：谭守新,丁凤霞,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 年份：2000
该文报道了对美国宇航级晶体管2N2905AL进行一系列试验和检测的结果，从而客观地反映了美国80年代初期制造的宇航级器件的实物质量水平。...
[会议论文] 作者：谭宗新,徐立生,高兆丰,
来源：第九届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2001
本文报导了对两种双极型晶体管进行的B-E结反向穿试验以及h随击穿应力的变化关系....
[会议论文] 作者：杜银波,徐立生,马素芝,
来源：第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会 年份：2001
本文主要介绍了俄罗斯热电老化试验台的功能和特点以及使用的体会,此类试验设备可以连续无故障工作1000小时以上....
[会议论文] 作者：黄杰,杜银波,徐立生,梁法国,
来源：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会 年份：2002
本文报导了对贮存10年的GaAs器件可靠性快速评价的结果,并探讨了在特殊情况下,对超贮存期器件使用的可能性....
[会议论文] 作者：李树杰,李亚红,高兆丰,王长河,徐立生,
来源：第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会 年份：2001
本文阐述了影响器件气密性的各种因素和质量一致性检验中所存在的问题,给出了摸底试验条件制定思路,对实验结果进行了分析,最后总结了在检漏工作中的几点建议....
[会议论文] 作者：吴海东,莫郁薇,张增照,郑丽香,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会 年份：2002
本论文用步进应力和恒定应力加速寿命试验的方法对国产砷化镓微波单片集成电路行波放大器的可靠性进行了初步的研究.根据步进应力试验的结果得到了恒定应力加速寿命试验的最佳试验温度.在T=255℃和T=285℃温度并加额定直流偏置条件下对样品进行了恒定应力加速寿......
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