搜索筛选:
搜索耗时0.8014秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 28 篇相符的论文内容
发布年度:
[会议论文] 作者：徐立生,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第三届学术年会 年份：1985
对几种常用的高频和超高频小功率管进行了EB结雪崩击穿后hFE退化的对比试验。高频小功率管hFE雪崩击穿的机理是明确的，产生雪崩退化的器件一般不会产生致命失效，其hFE值可以经...
[会议论文] 作者：李向东,徐立生,
来源：1993年全国可靠性物理学学术讨论会 年份：1993
...
[会议论文] 作者：杜伟,徐立生,
来源：第一届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会 年份：1997
...
[会议论文] 作者：赵敏,张万生,徐立生,
来源：第十二届全国LED产业研讨与学术会议(2010’LED) 年份：2010
随着LED产业的蓬勃发展，其寿命问题也越来越引人关注。威布尔分布是可靠性工程中常用的一种寿命分布，计算简便，估计精度虽有误差，但在可靠性工程中，这种分析精度已经足够了。针对L......
[会议论文] 作者：高兆丰,徐立生,
来源：2003第十届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2003
本文介绍一种针对进口工业品微波小功率晶体管的单批可靠性快速评价方法,以及在稳态热阻测量中须注意的事项....
[会议论文] 作者：赵敏,张万生,徐立生,
来源：2009LED最新产品及技术发展趋势论坛 年份：2009
半导体照明光源一般是指用于照明的LED器件，广义而言则涵盖LED器件及其附加驱动或其它功能电路的模块、模组。在照明应用中LED模块、模组的可靠性至关重要，然而模块、模组中LED...
[会议论文] 作者：徐立生,杜银波,
来源：第八届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1999
高温度恒定应力加速寿命试验，广泛应用于对器件的可靠性快速评价，器件失效机理的分析，本文正是利用此方法对某重点工程末级功率管WDO331进行了快速评价，及其失效的原因分析。......
[会议论文] 作者：杜银波,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 年份：2000
该文主要介绍了开展功率晶体管加速寿命试验过程中，为保证试验数据的准确性，是如何控制功率晶体管试验温度的。...
[会议论文] 作者：刘世华,徐立生,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第四届学术年会 年份：1987
...
[会议论文] 作者：刘庆祥,徐立生,
来源：第七届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1997
该文介绍了ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管ＤＸ００１１器件加速寿命试验的各种应力条件，以及试验中电参数的变化情况。重点对试验中电参数的变化机理做了详细的分析，并介绍了分析的各种手段。文章指......
[会议论文] 作者：徐立生,杜银波,
来源：中国电子学会可靠性分会第九届学术年会 年份：1998
该文概述了P波段功率管在射频脉冲条件下，进行加速寿命试验的方法和试验使用的设备，以及通过对我们目前试验工作的总结，对P波段功率管可靠性进行初步预测，分析器件失效的原因。......
[会议论文] 作者：赵敏,张万生,徐立生,
来源：第十一届全国LED产业与技术研讨会 年份：2008
本文给出了一种缩短试验时间求取LED平均寿命的方法，利用发光管光功率缓慢退化公式，由退化系数求得不同应力温度下LED失效时间，再用数值解析法得到正常环境温度应力下的LED平均......
[会议论文] 作者：安国雨,赵敏,张万生,徐立生,
来源：第十三届全国LED产业发展与技术研讨会 年份：2012
本文提出了一种LED器件质量特征参数的检测方法。引入电光转换效率和光功率保持率作为LED器件的质量特征参数；以芯片尺寸和电流密度来规范LED器件质量的检测条件；在进行耐久性试验之前，为了剔除早期失效的器件，给出了筛选方法，介绍了与LED器件可靠性相关的耐久性试验......
[会议论文] 作者：赵清旭,庄燮彬,徐立生,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理分会第六届学术年会 年份：1992
...
[会议论文] 作者：谭守新,丁凤霞,徐立生,
来源：中国电子学会可靠性分会第十届学术年会 年份：2000
该文报道了对美国宇航级晶体管2N2905AL进行一系列试验和检测的结果，从而客观地反映了美国80年代初期制造的宇航级器件的实物质量水平。...
[会议论文] 作者：谭宗新,徐立生,高兆丰,
来源：第九届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2001
本文报导了对两种双极型晶体管进行的B-E结反向穿试验以及h随击穿应力的变化关系....
[会议论文] 作者：杜银波,徐立生,马素芝,
来源：第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会 年份：2001
本文主要介绍了俄罗斯热电老化试验台的功能和特点以及使用的体会,此类试验设备可以连续无故障工作1000小时以上....
[会议论文] 作者：黄杰,杜银波,徐立生,梁法国,
来源：中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会 年份：2002
本文报导了对贮存10年的GaAs器件可靠性快速评价的结果,并探讨了在特殊情况下,对超贮存期器件使用的可能性....
[会议论文] 作者：高兆丰,张士芬,高金环,徐立生,
来源：第十二届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2007
本文通过案例分析,对耿氏二极管经常出现的短路、开路及管帽脱落等失效模式及失效机理进行了讨论,并根据失效机理指出了避免以上失效应采取的一些措施,对该器件的制造商和使...
[会议论文] 作者：张瑞霞,童亮,谭宗新,徐立生,
来源：2003第十届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2003
利用电学测量的方法成功地测量了大功率晶体管的稳态热阻,并通过大量的测试摸索出了一套有效、可靠的测量稳态热阻的方法,测试数据准确可靠....
相关搜索：
