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[会议论文] 作者:Prakash B GAMBHIR, 来源:第七届亚太地区国际PBL研讨会(7th Asia-Pacific Conferencr on PBL) 年份:2004
[会议论文] 作者:韩银和,Anshuman Chandra,李华伟,李晓维, 来源:中国科学院计算技术研究所第八届计算机科学与技术研究生学术讨论会 年份:2004
SOC测试中,需要对芯核设计包装电路,传统的串行包装方法增加了芯核的测试时间和测试功耗.研究表明,由于测试向量中存在着大量不确定位,所以测试向量中,有很多相邻扫描切片是可以重叠的.文章将提出一种并行包装方法,该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短......
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