原生微缺陷相关论文
本文利用快速退火的研究方法对Φ8英寸直拉硅单晶片中的流动图形缺陷(FPDs)进行了研究.首先用secco腐蚀液腐蚀了大直径直拉硅片,利......
通过实验分析了大直径直拉硅片中间隙氧含量对原生新微缺陷的影响,并对具有不同间隙氧含量的硅片进行热处理实验。结果发现间隙氧......
本文研究了大直径直拉硅单晶中的原生微缺陷—流动图形缺陷（flow pattern defects，FPDs）。分析了FPDs的微观形貌，及其在Secco腐蚀液中......
