通过软件模拟解释了SoC静态随机存储器单粒子实验中发现的多单元翻转以及物理地址存在固定差值的现象。采用Cadence软件设计了3X3 ......

航空航天电子系统对电子器件选型评估时需考虑器件的多单元翻转(MCU)情况,而MCU信息提取面临的最主要困难是缺少器件的版图信息。......

由辐射粒子引起的多单元翻转(MCUs)已经成为了影响存储器可靠性的一个主要问题。而存储器抗MCUs的加固方法一般是使用可以纠正多个......

CMOS集成电路持续缩小带来的变化已经使静态随机存取存储器(Static Random Access Memory, SRAM)对空间和地面环境中的中子、质子......

针对从单粒子翻转(SEU)实验数据中提取多单元翻转(MCU)信息时缺少物理地址与逻辑地址映射关系的问题,提出一种基于概率统计的物理......

利用中国散裂中子源反角白光中子束线开展13款商用静态随机存取存储器的中子单粒子效应实验.研究了测试图形、特征尺寸和版图工艺......