用显微光致发光（μ-PL）平面扫描的方法对CdZnTe(CZT)晶片进行了研究．分别在19μm×16μm的缺陷区域进行微米尺度和7.9mm×6.0mm的大面......

通过显微光致发光技术和显微拉曼(Raman)技术研究了半绝缘GaAs(SI-GaAs)晶体的带边附近的发光.在光荧光谱中,观察到在高于GaAs带边......

用显微光致发光（u-PL）平面扫描的方法对CdZnTe(CZT）晶片进行了研究。分别在19um×16um的缺陷区域进行微米尺度和7.9mm×6.0mm......

提出并实现了用微米级空间分辨率的显微光致发光(μ-PL)平面扫描谱对CdZnTe(CZT)晶片的表面亚微米层特性研究.在含缺陷区域进行微......