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Wafer-Level Burn-In and Test (WLBT) is a method for burning-in semiconductor devices while still in wafer form. This has......
国际整合元件制造厂（IDM）近年来，就陆续在上海、苏州等地兴建封测厂，如今包括国家半导体、飞利浦、Fairchild、超微等的封测厂也已量产......
针对晶圆上的芯片在测试中由于一些附加响应信号而导致测试结果与实际器件之间存在的差异,提出时域分析法.利用频域与时域之间相互......
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求。内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注，本文对目前内建自测试的可测性......
本文以使用Teradyne J750测试机测试独立内核的微控制器晶片时所用的探针卡设计为例,通过对微控制器内部各个部件的工作和测试原理......
