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摘 要 通过对电容套管介质损耗试验,我们能够有效地发现因电容套管制造工艺不良或末屏断裂而引起的内部局部放电缺陷,及早地避免因绝......
通过对电容套管介质损耗试验,能够有效地发现因电容套管制造工艺不良或末屏断裂而引起的内部局部放电缺陷,及早地避免因绝缘缺陷而引......