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内建自测试(BIST)简介
<正> 附录线性反馈移位寄存器(LFSR)理论由于线性反馈移位寄存器在结构上简单而且相当规则,其移位性质容易与串行扫描结合起来,而......
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深亚微米工艺下芯片的IDDQ测试技术的研究及应用
IDDQ测试理论一经提出,便引起了集成电路领域的广泛关注。作为有效的VLSI测试手段,IDDQ测试在检测芯片的物理缺陷,提高测试覆盖率,......
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