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IDDQ测试技术相关论文
深亚微米工艺下芯片的IDDQ测试技术的研究及应用
IDDQ测试理论一经提出,便引起了集成电路领域的广泛关注。作为有效的VLSI测试手段,IDDQ测试在检测芯片的物理缺陷,提高测试覆盖率,......
学位
IDDQ测试技术
深亚微米工艺技术芯片
高故障覆盖率
物理缺陷
测试向量序列
电流比
差分IDDQ
归一化
相关性
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