键裂能相关论文
本文发现了键裂能的差值△DH~0(Me-X/R-X)与基团电负性的线性关系,从而建立了一个计算R-X键键裂能的简单方法:DH~0(R-X)=DH~0(CH_3......
化学键的键裂能（也称离解能）定义为在标准条件下:键均裂前后各个物种生成热的代数和,即:DH<sup>0</sup>（R—X）=△tH<sub>208</sub><sup......
本文发现了键裂能的差值△DH~0(Me-X/R-X)与基团电负性的线性关系,从而建立了一个计算R-X键键裂能的简单方法:DH~0(R-X)=DH~0(CH_3......
利用基团电负性ＸＧ分别建立了计算ＣＨ３－Ｘ键与Ｒ－Ｘ键的键裂能方法。计算得到的８个ＣＨ３－Ｘ，２０个Ｒ－Ｘ可比较数据的平均偏差分别为２．０６ｋＪ．ｍｏｌ＾－１，２．６７ｋＪ．ｍｏｌ＾－１。......
建立了用基团电负性计算含氮硫有机物的键裂能的简单方法。利用此方法计算出２２个含氮含硫烷基衍生物的键裂能，其平均偏差为３．７０ｋＪ·ｍｏｌ＾－１。......
诱导效应指数与ＸＳｉＲｘＨ３－ｘ的标准生成热张秀利（河北轻化工学院基础部石家庄０５００１８）关键词诱导效应指数标准生成热键裂能烷基硅衍生物对于含硅有机物的......
以作者前文建立的基团电负性（GEN）标度为极性参数,研究了基团电负性与有机物键裂能的关系,从而建立了一个几乎可以计算任何有机物键......
利用诱导效应指数，建立了一个计算有机物Ｒ－Ｘ键的键裂能的简单方法。２８个可比较值的平均偏差为２．５ｋＪ·ｍｏｌ／Ｌ＾－１。......
建立了用基团电负性计算含氮含硫有机物键裂能的简单方法，并且得到自由基标准生成热的计算方法。计算了一些含氮含硫有机物键鲜明能......
利用前文建立的基因电负性,通过分析ΔΔfH<sup>0</sup>（MeSiX/CH<sub>3</sub>X）与基团电负性XG的关系,本文建立了两个计算ΔfH（Me<su......
利用诱导效应指数，建立了两种计算硅烷基衍生物ＸＳｉＲｘＨ３－ｘ的标准生成热的方法，１８个可比较值的平均偏差分别为２．４６ｋＪ．ｍｏｌ＾－１，１．４１ｋＪ．ｍｏｌ＾－１，同时得到两种计算ＸＳｉＲｘＨ３－ｘ键裂能的方法。１８个可......
通过研究与基团Ｘ的诱导效应指数Ｉ间的关系，提出一个方程：（式中：），Ｐ为ＨＸ分子中氢原子的个数，Ｉ为诱导效应指数）。利用上式，计算了一些甲基衍生物ＣＨ３Ｘ（Ｘ＝Ｆ，ＯＨ，Ｃｌ，ＮＨ２，Ｂｒ，ＳＨ，ＰＨ２，ＳｅＨ）的标......
利用诱导效应指数Ｉ，建立了计算一些ＣＨ３－Ｘ的键裂能的方法，并计算了一些甲基衍生物ＣＨ３－Ｘ的键裂能，其平均偏差为１．９３ｋＪ．ｍｏｌ＾－１。同时，推导出由ＤＨｍ（ＨＸ）和Ｉ计算烷基衍生物的键......
在热重分析测试结果的基础上,采用裂解气相色谱-质谱联用仪（PyGC-MS）分析双酚A 型聚砜在500耀700益 范围内不同温度下热裂解形成的产......
本文建立了用基团电负性计算含氮含硫有机物的键裂能的简单方法。利用此方法计算出２２个含氮含硫烷基衍生物的键裂能，其平均偏差为３．９７ｋＪ......
