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C-SAM相关论文

用于IC封装非破坏性失效分析的C模式扫描声学显微镜(C-SAM)

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期刊

非破坏性失效分析扫描声学显微镜 C-SAM

功率MOSFET器件分层失效检测技术与失效机理研究

近年来,随着我国经济的持续快速发展,对节能环保的要求、低碳生活的要求变得日趋重要,人们对能量转化与应用的管理需求日益增加。......

学位

功率MOSFET 封装失效分层检测超声波扫描显微镜 C-SAM

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