JTAG标准相关论文
该文详细介绍了该实验系统的电路资源、各硬件模块结构组成、逻辑功能及EPM7128SL84-15和EPF10K10LC84-4的内部结构和基于JTAG标准......
随着微处理器内部设计的复杂度越来越高,在芯片级和板级测试中,软件模拟、软件监控和软件分析等调试手段已经远远不能满足功能正确......
专用集成电路(ASIC)的测试需要设计一个专用测试集，测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC，其测试过程简便快捷，不需......
本文介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、以PC机作平台，针对由两块Xilinx公司的xc9572_pc84芯片所互连的PCB板，结舍边界扫描技术，探讨了......
阐述了基于JTAG标准的在系统编程技术的原理,并以在系统编程下载系统接口电路的设计为例,指出实际应用JTAG标准方法实现在系统编程......
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线，以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC故障类型、一般故障......
专用集成电路（ASIC）的测试需要设计一个专用测试集，测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC，其测试过程简便快捷，不需要......
介绍了支持JTAG标准的数字集成电路（IC）芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一......
JTAG是IEEE委员会的联合测试小组制定的测试标准.它使用户可以测试器件的逻辑和PCB板上的各器件的内部连接.现在,很多器件都兼容JT......
以CJTAG标准和JTAG标准为依据,在深入研究这两个标准的基础上,利用Quartus II开发平台和Verilog HDL语言设计了多TAPC结构,并用Mod......
