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飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）和脉冲射频辉光放电发射光谱（Pulsed-RF-GDOES）是两种重要的深度剖析技术，前者广泛应用于半导体工业的......
介绍了辉光放电发射光谱仪(GDOES)的发展和应用领域,以及测量深度谱定量分析的MRI模型.主要对单晶硅表面自然氧化的SiO2层、单层硫......
在MRI模型框架下,将遗传算法与卷积及TV-Tikhonov正则化反卷积方法结合,对Ni/Cr多层膜样品在旋转和非旋转条件下测量的俄歇(AES)深......
通过分数阶微积分这一来源已久的工具,我们可以拓展整数阶导数到任意阶导数。MRI是当今临床诊断中常用的成像技术,其中在MR的衰减......
自1970年代以来，由于真空技术的突破，结合离子溅射和表面元素成分分析技术，诸如二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectroscopy，SIMS）、......
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本文首先对辉光放电发射光谱(Glow Discharge Optical Emission Spectrometry-GDOES)基本原理做了简单评述,重点说明了对测量的材......
