SI-PIN相关论文
探测器为Si-PIN辐射探测器,晶体大小:φ20mm,Si层厚度300μm。计算过程中,照射条件为单能γ射线平行于z轴均匀入射到探测器上,对加......
低噪声的电荷灵敏前置放大器是高性能谱仪系统的核心部件,我们自主研制了一种可以用于高分辨率Si-PIN探测器的低噪声电荷灵敏前置......
为了实现大面积多通道Si-Pin探测器前端电子学的高度集成，设计了一种基于ASIC技术的电子学读出系统。文章主要介绍了该ASIC芯片的特......
为解决金硅面垒半导体探测器存在的漏电流较大、表面不可擦拭、受环境影响严重、使用稳定性较差等缺点，开展性能更优异的Si-PIN核辐......
光束探测器是同步辐射束线工程技术的重要组成部分,用以监测X光束线的位置、强度及空间分布等参数,因而对束线的准直、性能分析及......
采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti......
Photon energy response optimization using few-channel spectroscopy dose method for Si-PIN photodetec
Si-PIN photodetectors having features such as low cost,small size,low weight,low voltage,and low power consumption are w......
围绕构成现场X荧光仪的几个重要部分激发源、探测器以及微机化方案等进行探讨，采用管激发X射线作为激发源，Si-PIN作为特征X射线探测......
ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清......
半导体探测器具有优异的性能因而被广泛应用于能量色散X射线荧光测量,以传统型Si-PIN半导体探测器与复合型CdTe半导体探测器为研究......
建立探测器响应函数模型，实现对测量X射线能谱的分析，可提高EDXRF技术中谱数据处理的自动化程度和计算精度。通过对X射线的探测物理......
X射线荧光测厚法是对电子元器件金属镀层厚度进行测量的主要方法之一。本文对X射线荧光测厚仪的工作原理、结构进行了分析,对其核......
为解决基于 Si‐PIN 探测器的传统计数型粒子测量系统在测量低强度脉冲辐射场时存在的计数率低和不能直接测量粒子时间信息的问题，......
本文介绍了紫外生物芯片的工作原理和结构,从三个方面入手解决目前紫外生物芯片研制遇到的问题;分别是高性能SI-PIN探测器的设计;......
大气中的放射性氙是全面禁止核试验条约组织重点关注的监测对象,提高放射性氙同位素的探测灵敏度和测量准确度是目前全面禁止核试......
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