VLSI测试相关论文
近年来，随着集成电路制造工艺的飞速发展，集成电路制造技术已从深亚微米进入到纳米技术阶段，集成电路系统集成度得到迅速提高，超大......
本文详细阐明“基于高档微处理器为图形发生器的集成电路测试装置”的四个要点,尤其是数字电路测试码的自动生成。......
为了用较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路较高的故障覆盖,提出了一种数字集成电路测试中多扫描链的配置方法.该方法基于最大......
本文综述了近年来我国多值逻辑研究的进展,并对其中较有代表性的成果作了重点介绍.分析了国际上多值逻辑研究的新动向,重点讨论了......
不断缩小的工艺尺寸和超高的集成度使得集成在芯片上的晶体管数目急剧增加、功能越来越复杂,给VLSI测试带来了更加严峻的挑战。测......
