SiO2薄膜是光学薄膜领域内常用的重要低折射率材料之一.在文中研究中,通过测量薄膜的椭偏参数,使用非线性最小二乘法反演计算获得......

用自洽的半经验紧束缚方法，定域电荷中性条件和散射理论方法研究了Ｓｉ－ＧａＰ（１１０）异质结形成过程中的能带偏移变化，能带偏移在第１层Ｓｉ覆盖在ＧａＰ（１１０）衬底上后即......