低功耗内建自测试相关论文
随着半导体工艺的不断成熟,芯片的规模越来越大,结构越来越复杂。为了保证芯片的良率和可靠性需要进行复杂的测试。测试超大规模的......
对电路分布路径低功耗内建自测试，在电路故障检测方面具有重要意义。电路功耗内建自测时，需对电路构造距离序列进行寻优，传统方法主要......
