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随着集成电路的迅速发展,特别是片上系统SOC的出现,混合信号电路的集成度越来越高,其测试变得越来越复杂。传统的测试方法已经很难......
在文中该系提出了一种通过内建自测(BIST)方法来测试现场可编程门阵列器件(FPGA)边线资源的方法。该方法通过10步编程，可以检测出EP......
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介绍了三态内容寻址存储器的硬件组成,分析了三态内容寻址存储器的工作原理,结合March算法的理论设计了三态内容寻址存储器故障诊......
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给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问......
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为了缩短芯片上市时间和节约开发成本,EFlash IP(Embedded Flash memory Intellectual Property,EFlash IP)常被用于系统芯片(Syst......
