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前栅界面与背界面相关论文
DCIV技术提取SOI器件前栅界面与背界面态密度
直流电流电压(DCIV)方法不仅可以提取SOI器件前栅沟道界面态密度,也可应用于背界面态密度的提取.给出了具体的测试步骤与方法,以0.......
期刊
DCIV方法
SOI
NMOS器件
前栅界面与背界面
界面态面密度
等效能级
DCIV Technique
SOI NMOS device
front ch
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