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动态IDDQ测试相关论文

CMOS电路内结点桥接故障的动态IDDQ可测性研究

采用了动态IDDQ测试方法来探讨静态CMOS电路桥接故障的可测性,详细证明了静态CMOS电路任意桥接故障都是动态IDDQ测试可测的......

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内结点动态IDDQ测试桥接故障 CMOS电路 internal-node dynamic IDDQ test bridging faul

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