动态电流测试相关论文
随着微电子和半导体技术的飞速发展,电路的集成度和复杂度越来越高,使其测试面临着越来越多的困难。为解决这个问题,一些新的测试......
近些年来，随着电子电路的高速化和大规模集成化，布尔代数作为描述数字电路的逻辑行为的工具，越来越显示其不足．布尔过程论就是在这种情......
CMOS SRAM作为IC领域中一个极为重要的部分,其测试研究工作对于保证集成电路产品的质量具有重要的实际应用价值。传统的基于电压测......
栅氧短路故障对于集成电路的稳定性有着重要的影响，故障行为会在不产生逻辑错误的情况下导致参数失效。该文使用了一种电路级的故障......
电源噪声在深亚微米设计中正变得越来越突出,而因电源噪声引起的电路故障测试也变得越来越重要.本文针对这一情况提出了动态电流测......
本文针对动态电流测试,提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑门的动态电流通路故障模型.在波形模拟器的基础上......
随着数字系统设计技术的发展和电路集成度的提高,由晶体管缺陷导致的各种故障对电路的影响也越来越大,这给传统的测试技术带来了严......
随着数字系统设计技术的发展和电路集成度的提高,由晶体管缺陷导致的各种故障对电路的影响也越来越大,这给传统的测试技术带来了严......
