成败型元件相关论文
本文讨论由相互独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性置信下限的近似解。本文利用系统诸元件的试验数据,在一、二......
设有可靠性分别为p1和p2的两成败型元件.第i个元件试验N_次,成功S_次(i=1,2).本文利用样本点排序的方法给出了Q=p1-p2的经典的置信......
设有K个成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性P_i,P_i未知,设对第i个元件试验了N_i次,每次试验是否成功要通过检测才可确定......
考虑由３个独立工作的成败型元件组成的串联系统，利用隐蔽的系统寿命试验数据求元件可靠性的极大似然估计和区间估计，给出了数值例子。......
设Ａ为由Ｋ个相互独立的成败型元件组成的串联系统，第ｉ个元件的可靠性ｐｉ，ｐｉ未知，ｉ＝１，２，…，Ｋ．设对第ｉ个元件，对于给定的ｍｉ，有ｎｉ个巴斯卡试验数据：Ｘｉ１，Ｘｉ２，…，Ｘｉｎｉ，其中Ｘｉｊ表示对第ｉ个......
设成败型元件可靠性为Ｐ，Ｐ未知，今对此元件进行ｎ次独立试验，确切的成功数并不知道，但只知成功数在ｓ，ｓ＋１，…，ｓ＋ｍ之间，且设对成功数为ｓ，ｓ＋１，…，ｓ＋ｍ的相信程度分别为......
K／N（G）模型是实际工程中常的一种可靠性模型，应用甚广，其特例是多数表决系统，它是一种能使系统高可靠的特殊设计方法。醉际需要，给出了由N......
设系统A由K个独立的子系统B_1,B_2,…,B_K并(串)联而成,设第i个子系统B_i又由m_i个相互独立的成败型元件C_(i1),C_(i2),…C_(imi)......
考虑成败型元件，其可靠性随储存时间的延长而有所改变．设在时刻ｔ＝０时元件可靠性为ｐ，在ｔ＝ｔｉ时元件可靠性为ａｉｐ，ａｉ已知，ｉ＝１，２，…，ｐ未知．假设在ｔ＝ｔｉ时进行Ｎｉ次试验，对每次......
本文对单个成败型元件,当试验数由n增加为n+k,而成功数亦相应地由s增加为s+k时,所得的可靠性置信下限的变化情况以及试验次数由n增......
设有由Ｋ个成败型元件Ａ１，Ａ２，…，Ａｋ组成的串联系统，设Ａ１，Ａ２，…，Ａｋ之间有相依关系，要Ａ１成功的条件下Ａ２才可以试验，在Ａ１，Ａ２，都成功的条件下Ａ３才可以试验，…在Ａ１，Ａ２…，Ａｋ－１都成功的条件......
