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本文采用电路模拟手段,对典型基准组合电路中的SET传播特性进行了研究,发现了一类新的脉冲展宽效应机理一扇出重汇聚.根据重汇聚点......
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集成电路工艺水平的提升,使得由单粒子瞬态脉冲造成的芯片失效越发不容忽视.为了准确计算单粒子瞬态脉冲对锁存器造成的失效率,提......
工艺尺寸的降低导致组合电路对软错误的敏感性越发突出,由负偏置温度不稳定性(NBTI)效应引起的老化现象越发不容忽视.为了准确地评......
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随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路的测试成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成......
