掠出射X射线荧光相关论文
本文报道了由中国科学院高能物理研究所自行研制的掠出射X射线荧光分析(GEXRF)装置.掠出射X射线荧光分析不仅可以测量薄膜的成分,......
通过对GaAs(100)抛光晶片在相同条件下掠出射X射线荧光实验的可重复性研究,并结合常规光源与同步辐射光源X射线掠出射荧光实验结果......
建立了应用导管X光透镜的掠出射微区X射线荧光分析系统,并将该系统应用于纳米薄膜的分析.为了提高入射X射线的强度并提高系统的空......
掠出射X射线荧光分析技术是分析薄膜特性和介质表面的一种重要工具.文中简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,......
建立了应用导管X光透镜的掠出射微区x射线荧光分析系统．并将该系统应用于纳米薄膜的分析。为了提高入射x射线的强度并提高系统的空......
掠出射X射线荧光分析技术是全反射X射线荧光分析技术的延伸和发展,文章介绍了掠出射X射线荧光分析技术的形式、特点、基本原理和作......
基于X射线全反射现象,在常规X射线荧光分析的基础上成功研制了用于薄膜多层膜元素深度分布研究和微结构表征的掠入射X射线荧光(GI-......
