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探针痕迹相关论文

通过接触测试来提高探针痕迹的一致性

晶圆测试是通过探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫接触，连接测试机与芯片，再配合软件控制，对芯片参数进行测试，筛选出不良品。探针与芯......

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晶圆测试探针痕迹接触测试

影响探针痕迹深度的有关因素

晶圆测试是通过探针接触晶圆上被测试的芯片焊接点位置后，以电性测试的方式对芯片的性能好坏进行初步筛选。接触芯片的同时，在焊接位......

期刊

探针痕迹探针焊接点晶圆芯片

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