控制流错误检测相关论文
随着芯片制造工艺的进步,元器件的集成度不断提高,使得计算机芯片的性能得到了极大的提升。但同时,高度的集成化使得计算机芯片对......
随着集成电路等半导体制作工艺的迅速发展,微处理器等芯片的尺寸越来越小,性能也随之增高,但是对电磁辐射等外界环境也越来越敏感......
空间高能粒子辐射严重影响航天计算的可靠性,必须采取有效措施对其进行加固.相比使用抗辐射器件,使用软加固的商用器件具有性能高......
在高辐射宇宙环境下,大量射线容易使航天计算机发生瞬态故障,导致程序出现控制流错误,而传统控制流错误检测算法存在运算复杂度高......
