时间交替采样ADC相关论文
集成电路(IC)测试仪作为一种专用测试仪器,需要达到比被测设备(DUT)更高的指标,才有能力对这些芯片进行测试。为了对高速数模转换......
随着现代宽带雷达通讯的发展,对雷达回波信号的采集和目标的特征提取成为研究者关注的焦点。由于雷达回波的高频信号高达几十兆赫......
