飞行时间次级离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）分析了用化学方法清洗后，银片上残留的未知的有机物，结果显示，有机沾污物主要是一些合１８～３０碳原子......