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杂质和缺陷密度相关论文
受主型杂质对p型单晶硅中少子衰减过程的影响
少子寿命测试技术是监控单晶硅中杂质和缺陷的数量及性质的重要技术手段。基于常规光电导少子寿命测试的基本参数,研究了不同性质......
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p型单晶硅
少子寿命
电子陷阱
复合中心
杂质和缺陷密度
俘获截面
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