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在系统芯片SoC测试中,模拟核的可靠性测试是现在亟待解决的一个重要问题;针对此问题,主要对Wrapper测试壳结构进行设计,在此标准的......
在系统芯片SoC测试中,存储器的可靠性测试是一项非常重要内容.IEEE Std 1500是专门针对嵌入式芯核测试所制定的国际标准,规范了IP......
嵌入式存储器在SOC中所占的面积比越来越大,同时也对嵌入式存储器测试技术提出了新的挑战.IEEE1500标准为IP核设计商与集成商制订......
本文在总结片上网络多播测试方法的基础上,针对多播测试方法的缺陷提出了两种改进的片上网络路由器的测试方法。实验证明,这两种改......
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SoC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,使得SoC的测试变得越来越困难。IEEE ......
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提出了一种在功耗及测试并行性约束下三维片上系统(System on Chip,SoC)绑定中测试阶段并行测试的优化策略,通过最大限度地利用测......
随着21世纪集成电路制造产业取得巨大突破,三维集成技术成为引领行业延续摩尔定律的重要技术。相比传统二维芯片,三维芯片拥有更高......
测试已经成了集成电路设计制造中不可分割的一部分,而且随着集成电路工艺复杂度和设计复杂度的提高,集成电路的测试变得越来越困难......
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