测试环单元相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

测试环单元相关论文

一种改进型IP核测试环单元设计

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会议

IP核测试测试环单元扫描移位过程安全状态

多IP核嵌入系统的测试结构及其调度优化研究

为了提高设计生产率和缩短上市时间，IP核嵌入复用已经成为系统芯片设计的主要方法。然而多IP核嵌入的设计同时也给系统芯片的测试带......

学位

IP核嵌入测试结构测试调度测试环单元遗传算法

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