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片上工艺偏差相关论文
深亚微米工艺下签核(sign-off)静态时序分析方法与研究
深亚微米工艺在电路时序收敛精确度方面使芯片设计者和EDA工具面临了一系列挑战。时序收敛的不确定性是由片上工艺偏差、片外环境......
学位
静态时序分析
签核
深亚微米
统计时序分析
片上工艺偏差
超大规模集成电路中基于OCV的时序收敛方法
当芯片设计进入深亚微米,片上工艺偏差(OCV)造成的时序不确定性,成为超大规模集成电路时序收敛中的关键问题,单纯使用传统时序分析方法,......
期刊
深亚微米
片上工艺偏差
时序收敛
建模
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