利用（扫描）透射电子显微镜(STEM/TEM)，包括电子衍射，高分辨像（HRTEM），高角环形暗场像(HAADF)，EDX分析等，并结合原位XRD和TEM技术，研究了铁基......

通道效应是出射波函数的样品厚度周期效应。像差校正高分辨像中像点强度随样品厚度的变化正是这种效应的直接体现。本文提出了利用......