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基于动态局部重配置的FPGA抗辐射模拟
提出一种与具体硬件结构无关、基于权重的错误注入模型,用于准确模拟基于SRAM的现场可编程门阵列抗辐射性能。提出基于JTAG边界扫......
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现场可编程门阵列
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Field Programmable Gate Arrays(FPGA) fault inje
FPGA CAD后端流程研究
与专用集成电路比较而言,FPGA所具备的灵活可编程性使其具有设计周期短,一次性费用低以及上市时间快等优点。正是这些优点,使得FPG......
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