静态漏电相关论文
随着制造工艺的不断进步，老化效应导致的动态参数偏差和漏电给集成电路的可靠性带来了严峻挑战。目前关于电路老化和漏电的协同优化......
分析了半导体器件静态漏电对高可靠设备造成的危害。对比了失效器件在不同偏压条件下的测试结果,结合器件芯片版图的设计特点以及......
在标准的Fabless CMOS工艺线上，由于没有对静态存储器生产进行过专门的工艺优化，在有大规模SRAM嵌入设计的ASIC与SoC电路中，静态电流......
