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Si(111)衬底上非晶态GaN薄膜的晶化过程

采用磁控溅射法在Si(111)衬底上直接淀积GaN薄膜。通过X射线衍射谱(XRD)、X光电子能谱(XPS)和扫描电子显微镜(SEM)研究GaN薄膜由非......

期刊

非晶GaN薄膜多晶GaN薄膜 Si衬底氨气气氛磁控溅射法

从不纯样品的光谱中提取单一组分和结构的拉曼谱

X射线衍射谱和拉曼光谱均证实所用的SiC和GaN样品为不纯的非晶样品。通过新采取的减去经加权的“杂质”光谱的方法，从不纯的非晶样......

期刊

拉曼光谱非晶GaN 非晶SiC 声子态密度

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