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该文采用谱域方法对多层介质结构中的出现的主模漏波现象进行了探讨。一些最新的研究结果表明，对于这一类结构，当频率变高时，主模将会与一定数量的表面波模式发生耦合，导致不希望的功率泄漏。与以前发现的高次模漏波不同，这类漏波的电流分布与主模非常相似，因此对一些高速器件，如毫米波集成电路、高速电光调制器等，将会带来很大的危害。该文探讨了漏波现象的发生机理，对分析漏波特性的几种方法进行了研究。重点讨论了由于卷入表面波极点后谱域积分的几种求法。同时给出了一些数值结果，它们与已发表的一些文献的结果吻合很好。