【摘 要】
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基于单目成像系统的被动测距是目前基于图像测距的追求之一，但鉴于单目图像缺乏体视信息，因而在具体操作方面存在许多问题。研究业已证明这种系统的性能主要取决于特征线度的精度以及目标的方位角和俯仰角的测量误差。本文探讨了基于DM6437定点芯片的高精度数学运算的实现。为了提高测距算法的精度，采取了自上而下的优化过程，首先确定了三角函数，反三角函数和开平方函数的实现，然后，实现了一种快速高精度的浮点数除法。
【机 构】
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西安电子科技大学 机电工程学院 西安 710071
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基于单目成像系统的被动测距是目前基于图像测距的追求之一，但鉴于单目图像缺乏体视信息，因而在具体操作方面存在许多问题。研究业已证明这种系统的性能主要取决于特征线度的精度以及目标的方位角和俯仰角的测量误差。本文探讨了基于DM6437定点芯片的高精度数学运算的实现。为了提高测距算法的精度，采取了自上而下的优化过程，首先确定了三角函数，反三角函数和开平方函数的实现，然后，实现了一种快速高精度的浮点数除法。文中的算法已经移植在TI公司的DM6437芯片上并运行成功。结果表明，应用本文的方法，可实现高精度的目标被动测距，目标距离估计误差小于3％。
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