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该文论述基于VXI总线的ATE数据混合集成电路测试系统。介绍了集成电路VXIbus测试系统的软硬件设计。详细描述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。
VXI数模混合集成电路测试系统
【摘 要】
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该文论述基于VXI总线的ATE数据混合集成电路测试系统。介绍了集成电路VXIbus测试系统的软硬件设计。详细描述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。
【机 构】
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北京自动测试技术研究所冯建科
【出 处】
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第九届中国集成电路测试学术年会
【发表日期】
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1999年期
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