集成电路测试系统相关论文
数字通道测试速率的不断提升以及单块板卡的集成度越来越高是当今大规模集成电路(SOC)测试系统发展的趋势,由于测试系统高速数字通......
本文阐述了广泛应用于军工电子集成电路测试的UNIMET4000混合集成电路测试系统的校准方法；混合信号集成电路的发展,对混合集成电路......
本文主要探讨A／D转换器的静态参数测试方法，并基于ASL3000集成电路测试系统完成对A/D转换器电路的静态参数测试。实践表明，这种测试方......
本文论述了应用微电子标准样片建立集成电路测试系统计量检定装置，实现集成电路测试系统微电子量值的溯源、健全微电子量值传递体系......
本文通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS60e的介绍,讨论了数字集成电路(IC)测试方法及其在ATS60上的应用,并以大规模集成电路......
本文基于SAPPHIRE集成电路测试系统,介绍了自行开发的从VCD测试向量到STIL测试向量的转换软件及流程.该软件及流程很好的实现了从......
发展网络型自动测试系统,我们面临着许多新的挑战,诸如走出原来的单块集成电路测试系统;新技术贯穿于系统的整个生命周期;开发便于......
文章叙述了利用增强型并行口(EPP)将一大规模集成电路测试系统的信息传送到PC机的软、硬件设计方法.该方法使用极简单的硬件和软件......
由于计算机技术的飞速发展和普及，当代的集成电路测试系统(ICTS)都是可程控的计算机辅助测试(CAT) 的系统。为了使用户能快速、方便......
该文论述基于VXI总线的ATE数据混合集成电路测试系统。介绍了集成电路VXIbus测试系统的软硬件设计。详细描述了全面提高系统开放性......
该文从提高性价比和系统工程化的目的出发,在"八五"攻关大型测试系统的基础上对模拟量程控发生器进行了改进设计和实现.讨论了新型......
本论文的研究课题是基于集成电路测试系统(ATE)的现场可编程门阵列器件(FPGA)测试技术研究。FPGA器件由于其可配置、应用设计开发......
在高速集成电路测试应用中，当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时，其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns 的偏差都将导致整个测试时......
1、简介rn《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义.......
本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理,提出了两种AC参数的定量测试方法：二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比......
恩浦科技有限公司(NPTest)和北京微电子技术研究所宣布双方建立高端CPU/SOC测试战略合作伙伴关系.恩浦科技有限公司的EXA3000超大......
根据不完全的统计,从1980年代开始集成电路的工艺快速更新换代,集成度按摩尔定律每18个月增加一倍,此增长势头将会延续至2010年.相......
在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试......
一、会议主题微电子技术是当代技术革命的先导与核心。微电子技术的发展，离不开微电子计量与测试技术的保障。当前，微电子器件的发展......
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数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目(VXI数模混合集成电路......
<正> 集成电路产业是国家综合竞争力的重要标志,也是维护国家经济和国防安全的关键核心。近五年来我国集成电路产业年均增长27%,呈......
利用集成电路测试系统,可以完成小于1m V和1m A的直流电压和电流的测试。而想要确保测量值准确可靠,还要使用相应的校准技术进行微......
依据《国防军工计量技术规范管理办法》（科工技[2012]498）号文的有关规定，3月25日，国防科工局以科工技[294]号文发布了《模拟集成电路......
近年来，半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步，其标志是跨入了毫微技术领域，其结果是我们进入了一个......
简单论述了边缘扫描测试技术,详述了研制的网络化边缘扫描测试系统的构建方法。针对测试系统的实际应用进行了说明。......
本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建......
<正> 德国 SZ 公司的 M3000测试系统,无疑是非常成功的通用集成电路测试系统,它具有测试面广,性价比高等特点,深受广大中国用户的......
科利登系统公司最近宣布，推出Kalos 2 Hex(K2 Hex)系统，该系统是用于目前和下一代非挥发性存储器和嵌入式存储器件的集成电路测试系......
本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对,对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方......
手机、电脑、互联网已是现代生活中不可或缺的重要组成,人们在享受着现代信息技术带来的快捷方便中,实现了足不出户尽知天下事,轻......
本文主要讨论了集成电路(IC)测试的目的、分类、测试系统及测试技术,最后论述了系统集成芯片(SoC)的出现对测试技术提出了新的要求......
1、简介《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发，对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于......
介绍了集成电路测试系统中程控直流电源的结构、工作原理,分析了影响程控直流电源准确校准的因素,提出采用开尔文连接校准程控直流......
集成电路测试系统微小微电子参量是指小于1毫伏的直流电压和小于1毫安的直流电流。对这些微小微电子参量进行校准是确保微电子参量......
作为目前被广泛使用的磁场传感器之一的霍尔传感器,在精密测量、工业自动化及家用电器,特别汽车电子等领域得到了出色的应用。随着......
本文以TI公司的DSP5509A为例，介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路和方法。本文论述的DSP功能模块的测试算法，指令测试方法，脱......
在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测......
