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会议论文
双降场区RESURF LDMOS
双降场区RESURF LDMOS
来源 :第十届全国半导体集成电路、硅材料学术会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shylockbc
【摘 要】
:
该文提出一种与结隔离智能功率集成电路(Smart Power IC.,SPIC)工艺兼容的双降场区RESURF LDMOS结构,二维器件模拟表明该结构能有效地降低高压LDMOS的表面电场,提高其耐压。
【作 者】
:
扬健
李肇基
【机 构】
:
科技大学微电子所
【出 处】
:
第十届全国半导体集成电路、硅材料学术会
【发表日期】
:
1997年期
【关键词】
:
功率集成电路
二维器件模拟
Power
结构
工艺兼容
表面电场
智能
耐压
隔离
高压
场区
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该文提出一种与结隔离智能功率集成电路(Smart Power IC.,SPIC)工艺兼容的双降场区RESURF LDMOS结构,二维器件模拟表明该结构能有效地降低高压LDMOS的表面电场,提高其耐压。
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