多芯片模块的热特性分析

来源 :第二届全国电子设备热设计专题学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zkw_2209
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该文主要讨论了多芯片模块(MCM)的热失效模式。侧重于MCM中的一些关键部位(如焊点)的热应力计算,和MCM疲劳失效机理及其焊点疲劳寿命预计。
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