【摘 要】
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基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程中功耗产生的原因,然后对扫描触发器的跳变对其内部组合逻辑产生的影响进行了建模,并根据这个数学模型重新调整了扫描链中扫描触发器的排列顺序,从而降低了扫描测试过程中的峰值功耗和总功耗。
【机 构】
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中国科学院沈阳自动化研究所 辽宁沈阳 110016 中国科学院研究生院 北京 100039 中国科
【出 处】
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中国仪器仪表学会第九届青年学术会议
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基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程中功耗产生的原因,然后对扫描触发器的跳变对其内部组合逻辑产生的影响进行了建模,并根据这个数学模型重新调整了扫描链中扫描触发器的排列顺序,从而降低了扫描测试过程中的峰值功耗和总功耗。
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