论文部分内容阅读
MIMO OTA认证测试方案(多探头法)
【出 处】
:
2017中国电子设计创新大会
【发表日期】
:
2017年11期
其他文献
GaN on silicon technology combines the low cost and ease of manufacturing associated with large diameter Si substrates and the demonstrated high power density and efficiency offered by AlGaN/GaN devic
会议