ZrO薄膜的X射线衍射分析

来源 :中国光学学会2004年学术大会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ricky1281214
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用电子束热蒸发的方法生长了ZrO2薄膜,通过X射线衍射分析,我们得到了在不同电子束流下沉积的薄膜其结构和性质是不同的。在100mA电子束流下薄膜基本上处于非晶状态,120mA时出现结晶,并且随着电子束流的增大,结晶越来越明显,峰值越来越大,半高宽越来越小,晶粒线度逐渐增加,表面粗糙度逐渐增大。薄膜中的应力随着电子束流的变化不是简单的线性关系,140mA时为张应力,但是很小,接近于零,其他情况下表现为压应力。
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