基于投影测量原理及现有的标定技术提出了一种改进的纵向标定方法。分析了测量系统在任意几何设置下参考平面与成像面之间的坐标转换关系,构建了相位差-高度之间的映射数学模型,并给出具体的测量系统逆向标定操作过程。该标定几何模型放宽了对投影及摄像系统方位设置的限制条件,标定操作只需确定测量系统的数个待定参数,各参数与成像面上的像素点坐标值不相关,克服了原标定方法中对每个像素点进行繁琐的参数标定过程,从而有效减少了计算的复杂程度,降低了标定参数存储的空间。基于构建的数字投影光学三维测量系统,分别采用两种标定方法对系统进行了标定实验和实测对比,并分析了测量系统误差。结果表明:基于新标定方法测得的平板面形PV值小于原标定方法测得值,在Z向0~48mm,测得不同位置PV值的标准差为0.003 6mm,验证了改进方法的可行性。研究成果对于提高数字投影光学三维测量系统的标定效率和可操作性具有积极意义。