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本文采用非接触光探针平整度仪对取向膜表面轮廓形状进行扫描测试,探讨取向膜表面边缘轮廓形状可能对液晶屏盒厚均匀程度造成的影响.
用非接触光探针平整度仪扫描取向膜边缘的轮廓
【摘 要】
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本文采用非接触光探针平整度仪对取向膜表面轮廓形状进行扫描测试,探讨取向膜表面边缘轮廓形状可能对液晶屏盒厚均匀程度造成的影响.
【机 构】
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河北工业大学应用物理系(天津)
【出 处】
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2002中国平板显示学术会议
【发表日期】
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2002年期
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