论文部分内容阅读
ICP-AES法测定AgCuZnMnNi合金组成
【机 构】
：
贵金属研究所
【出 处】
：
全国第五届贵金属分析学术会议
【发表日期】
：
1998年期
其他文献
该文对光谱分析标准化的机理进行了探讨，阐明了为什么只用两点就可以对整个曲线进行标准化，指出了标准化应该注意的问题，并进实验例证。作者认为，标准化是对谱线光强的校正，不是对
实验作出了ZnSe单晶样品（由长春物理所制备）的EER谱结构Eo和Eof△。由此定出的跃迁能量分别为2．725ev和3．139ev，相应的寿命展宽参数为30mev和53mev。与国外82年报道的结果作了比较
利用深能级瞬态谱的方法可以了解半导体材料中深能级的信息，缺点是不能检测肖特基二极管中少子的陷阱能级。ODLTS法可以克服这一缺点。因此特别适用于检测不易做成P-n结的Ⅱ—